Leave Your Message
Paramètres d'évaluation et application de la gravure sèche
Nouvelles

Paramètres d'évaluation et application de la gravure sèche

2024-10-22

Paramètres d'évaluation de la gravure RIE

 

Dans le procédé de gravure RIE, plusieurs paramètres clés permettent d'évaluer l'efficacité de la gravure et la qualité du processus. Ces paramètres comprennent la vitesse de gravure, le taux de sélection, la taille critique (CD), le décalage dimensionnel et l'angle du motif de gravure.

Image 2.png
 

Vitesse de gravure (ER)

La vitesse de gravure correspond à la quantité de matière enlevée par unité de temps. Afin d'améliorer l'efficacité du procédé, on souhaite généralement que cette vitesse soit la plus élevée possible. Cependant, une vitesse de gravure trop élevée peut nuire à l'uniformité et à la précision de la gravure ; il est donc nécessaire de trouver un compromis entre vitesse et précision.

 

Rapport de sélectivité

Le rapport de sélectivité désigne le rapport des vitesses de gravure entre le matériau cible et le masque ou le substrat. Un rapport de sélectivité élevé limite les dommages causés au masque ou au substrat lors de l'élimination du matériau cible. Le contrôle du rapport de sélectivité est particulièrement important lors de la fabrication de structures en grille, car la couche d'oxyde y est très mince.

 

Dimension critique, CD

La taille de la clé fait référence à la taille de l'image après gravure. Le contrôle de la dimension critique (CD) influe directement sur les performances électriques du circuit, notamment sur la tension de seuil du transistor. Lors de la fabrication, il est impératif de maîtriser strictement les variations de CD afin d'optimiser les performances et le rendement du produit.

 
Décalage dimensionnel, △CD
Le décalage dimensionnel correspond à la différence entre la taille de l'image gravée et celle du masque original. Un contrôle précis de la gravure permet de minimiser ce décalage et ainsi de garantir la précision du rendu graphique.
 
 
Angle du profil de gravure
Le motif de gravure idéal doit présenter des parois latérales verticales proches de 90°. Des angles excessifs (chanfreinage) peuvent entraîner une accumulation de charges lors des processus ultérieurs, ce qui peut affecter les performances du dispositif, tandis que des angles inverses (chanfreinage inverse) peuvent créer des zones d'ombre, ce qui peut nuire à l'implantation ionique ultérieure.
 
 
Application de la gravure RIE à la gravure de différents matériaux

La technologie RIE permet de graver divers matériaux semi-conducteurs, notamment les métaux, les isolants et les matériaux à base de silicium. Les exigences du procédé de gravure étant très différentes selon les matériaux, le choix du gaz de gravure RIE et des paramètres de procédé doit être optimisé pour chaque matériau.
 

gravure sur métal

Dans la fabrication des semi-conducteurs, la gravure chimique des métaux est principalement utilisée pour la réalisation des interconnexions. Parmi les métaux couramment gravés figurent l'aluminium, le cuivre et le tungstène. Prenons l'aluminium comme exemple : le chlore gazeux (Cl₂) est couramment utilisé pour sa gravure, et son produit de réaction est le chlorure d'aluminium (AlCl₃), volatil et rapidement éliminable. Afin d'améliorer le rendement, des gaz auxiliaires tels que le chlorure de silicium (SiCl₄) peuvent être utilisés pour protéger le masque tout en garantissant la vitesse de gravure.

 
gravure de l'isolant
Les matériaux isolants couramment gravés comprennent le dioxyde de silicium (SiO₂) et le nitrure de silicium (Si₃N₄). La silice est généralement gravée dans des gaz fluorés tels que le CF₄ et le CHF₄. Le radical fluor réagit avec la silice pour former le SiF₄ volatil. La gravure du nitrure de silicium peut être réalisée en mélangeant les gaz (CF₄ avec O₂, etc.) afin d'améliorer le rapport de sélection et la vitesse de gravure.
 
 
gravure du silicium monocristallin et du polysilicium
La gravure des matériaux en silicium est principalement utilisée pour former la structure de grille des transistors à isolation par tranchée. La gravure du silicium monocristallin utilise généralement des gaz à base de brome, tels que HBr. Lors de la gravure, le radical brome réagit avec le silicium pour former le SiBr₄ volatil, garantissant ainsi l'anisotropie et la haute sélectivité de la gravure. La gravure du polysilicium est largement utilisée pour la gravure de grille ; un mélange de chlore (Cl₂) et de HBr permet d'augmenter la vitesse de gravure et d'assurer une bonne protection des parois latérales.
 
 
Développement et avenir de la technologie RIE
 
Avec la miniaturisation croissante des circuits intégrés, la technologie RIE est confrontée à des défis de plus en plus importants. Afin de répondre aux exigences des nœuds technologiques de 7 nm, 5 nm, voire plus petits, le contrôle de l'anisotropie et le taux de sélection de la gravure RIE sont encore améliorés, et l'uniformité et la reproductibilité du procédé sont également soumises à des exigences plus strictes. Par ailleurs, des technologies de gravure à basse température et des technologies de gravure basées sur des matériaux de nouvelle génération sont activement développées pour s'adapter à l'évolution des besoins de la fabrication des semi-conducteurs.
 
 
Fountyl Technologies Pte Ltd., forte de 20 ans d'expérience dans l'industrie des semi-conducteurs, se spécialise à Singapour dans la fabrication de pièces en céramique de pointe. Ses principaux produits sont des mandrins à vide, des effecteurs, des pistons et des systèmes de guidage en céramique, réalisés à partir de divers types de céramique (alumine, zircone, carbure de silicium, nitrure de silicium, nitrure d'aluminium et céramiques poreuses). L'entreprise maîtrise l'intégralité du processus, du frittage à l'usinage de précision, en passant par les tests et le nettoyage, et garantit des délais de livraison respectés. Ses produits sont exportés vers plus de 20 pays et régions, notamment aux États-Unis, en Europe et en Asie du Sud-Est.
 
 
Capture d'écran WeChat_20240617162037_copie.png